Detection of Defects in Soybean Seeds by Extracting Deep Features with Squeezenet

Tam metin bildiri

Uluslararası

ALMANYAÜlke

7.09Etkinlik Yılı

135,0TEŞV Puanı

Etkinlik Bilgileri

Etkinlik Adı12th IEEE International Conference on Intelligent Data Acquisition and Advanced Computing Systems: Technology and Applications (IDAACS'2023)

ÜlkeALMANYA

ŞehirDortmund

Etkinlik Başlangıcı7 Eylül 2023

Etkinlik Bitişi9 Eylül 2023

Bildiri Bilgileri

Bildiri TürüTam metin bildiri

Sunum TürüSözlü Sunum

KapsamUluslararası

Yayın DurumuYayımlanmış

Yayın Diliİngilizce

YazarlarKÖKLÜ MURAT, KURŞUN RAMAZAN, TAHSİN YASİN ELHAM, TAŞPINAR YAVUZ SELİM

Yazar Sayısı4

Basım TürüElektronik

Yayın Künyesi

Sayfalar713 – 717

ISSN2770-4254

ISBN979-8-3503-5805-6

DOI10.1109/IDAACS58523.2023.10348939

Erişim BağlantısıGörüntüle

TEŞV Puanı135,0

Alan Bilgisi

Mühendislik Temel Alanı>Bilgisayar Bilimleri ve Mühendisliği

Araştırmacılar (3)

Öğr. Gör. RAMAZAN KURŞUN

Bilgisayar Teknolojileri

Bilişim Güvenliği Teknolojisi

Doç. Dr. YAVUZ SELİM TAŞPINAR

Mekatronik Mühendisliği

Kontrol Sistemleri

Doç. Dr. MURAT KÖKLÜ

Bilgisayar Mühendisliği

Bilgisayar Yazılımı