CANLI
Yükleniyor Veriler getiriliyor…
/ Bildiri / Detay
Bildiri

Newly Emerging Simulation And Experimental İnvestigations For Surface Characterization With Desorption Electrospray İonization Mass Spectrometry

Özet bildiri
Uluslararası
13.0Etkinlik Yılı

Etkinlik Bilgileri

Etkinlik AdıInternational Semiconductor Scince Technology Conference
Etkinlik Başlangıcı13 Ocak 2014
Etkinlik Bitişi15 Ocak 2014

Bildiri Bilgileri

Bildiri TürüÖzet bildiri
Sunum TürüPoster
KapsamUluslararası
Yayın DurumuYayımlanmış
Yayın Diliİngilizce
YazarlarYILDIRIM MURAT
Yazar Sayısı1
Basım TürüBasılı

Alan Bilgisi

Fen Bilimleri ve Matematik Temel Alanı->Fizik