CANLI
Yükleniyor Veriler getiriliyor…
/ Bildiri / Detay
Bildiri

Determination of Optical Properties of Thin Film Structures grown on any substrate via chemical method Using the Method of Ellipsometry

Özet bildiri
Ulusal
TÜRKİYEÜlke
3.09Etkinlik Yılı

Etkinlik Bilgileri

Etkinlik AdıTurkish Chemical Society International Chemistry Congress
ÜlkeTÜRKİYE
Etkinlik Başlangıcı3 Eylül 2002
Etkinlik Bitişi8 Eylül 2002

Bildiri Bilgileri

Bildiri TürüÖzet bildiri
Sunum TürüPoster
KapsamUlusal
Yayın DurumuYayımlanmış
Yayın DiliTürkçe
YazarlarÇELİK GÜLTEKİN,ŞAFAK HALUK
Yazar Sayısı2
Basım TürüBasılı

Alan Bilgisi

Fen Bilimleri ve Matematik Temel Alanı->Fizik