CANLI
Yükleniyor Veriler getiriliyor…
Ana Sayfa / Dergiler / Detay
SJR - conference and proceedings 2025 verisi
Proceedings - IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems, DFT
United States · Northern America SJR 0,347 H-Index 41 Rank #15694

Kategoriler ve SJR Quartile (son yıl: 2025)

Kategori Adı Quartile
Electrical and Electronic Engineering
Hardware and Architecture
Safety, Risk, Reliability and Quality
Signal Processing

Kategori Quartile Tarihçesi (2021–2025)

Kategori 2025 2024 2023 2022 2021
Electrical and Electronic Engineering
Hardware and Architecture
Safety, Risk, Reliability and Quality
Signal Processing

Kurum Akademisyenlerinin Yayınları (0)

Dergi Listesine Dön
Bu dergide henüz kurum makalesi kaydedilmemiş

Metrikler (2025)

-
Best
Quartile
0,347
SJR
41
H-Index
#15694
Rank
1,34
Atıf/Yayın
(2y)
19,1
Ref/Yayın
123
Yayın
(3 Yıl)
173
Atıf
(3 Yıl)
668
Toplam
Kaynak
%20,0
Kadın
Yazar
SDG 2

Dergi Bilgileri

Yayıncı Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
Ülke / Bölge United States · Northern America
Tür conference and proceedings
ISSN 25761501 · 25761501 · 25761501 · 25761501 · 25761501 · 2765933X · 2765933X · 2765933X · 2765933X · 2765933X
Scimago ID 21101123252

Yayın Kapsam Aralıkları

2021-2024 2021-2024 2021-2024 2021-2024 2021-2025

SJR Trendi (2021–2025)

2021
SJR 0,000 · -
2022
SJR 0,000 · -
2023
SJR 0,000 · -
2024
SJR 0,350 · -
2025
SJR 0,347 · -
2021 2022 2023 2024 2025
H-Index Trendi
7 2021 7 2022 7 2023 7 2024 41 2025